• HOME>
  • 分析事例

アプリケーション

各種アプリケーションデータをご紹介いたします。各タイトルをクリックすると詳細なページへ移動します。

  • Materials 各種材料
  • Semiconductors 半導体
  • Geosciences 地球科学
  • Life sciences 生命科学

Materials (各種材料)

合金、超合金

LEAP 3次元アトムプローブによるフェライト系超合金の微細構造評価
- Microstructural characterization of a ferritic superalloy with LEAP 3D Atom Probe

LEAP 3次元アトムプローブによる金属、合金の粒界面評価
- Characterization of grain boundaries in metals & alloys with LEAP 3D Atom Probe

LEAP 3次元アトムプローブによる相分離プロセスの評価
- Investigation of phase separation processes with 3D Atom Probe

EPMAによる鉄鋼中のマンガン析出の分析
- Manganese segregation in steel with EPMA

FEガンEPMAによるNiベース超合金の高空間分解能マッピング
- Light element mapping at high spatial resolution in Ni-based superalloy with FEG- EPMA

セラミック

NanoSIMSによる多結晶材料の析出、拡散の研究
- Study of segregation & diffusion in polycrystalline materials with the NanoSIMS

LEDs

IMS-7FによるLEDデバイスのR&Dとプロセスコントロール
- R&D and process control of LED devices with the CAMECA IMS 7f

磁性材料

3次元アトムプローブによる磁気歪み多層膜の解析
- Analysis of magnetostrictive multilayers with 3D Atom Probe

非鉄材料

IMS-7FによるSn/Cu中の微量不純物微小領域マッピング
- Trace element mapping: small area analysis in Sn/Cu wire structure with the IMS 7f

太陽電池

IMS-7FによるPV Si原料の汚染元素分析
- Elemental analysis of contamination in PV Si feedstock with the IMS 7f

ページTOPへ

Semiconductors (半導体)

研究開発

IMS-7Fによる深いイオン注入および浅いイオン注入のデプス分析
- Depth profiling of deep and shallow implants with the IMS 7f

カメカEXLIE SIMS装置によるsub-nm深さ解能のデプス分析
- Depth profiling at sub-nm resolution with CAMECA EXLIE SIMS instruments

SIMS4550によSiGe構造の深さ方向分析
- In-depth analysis of SiGe structure with the SIMS 4550

LEAP Si 3次元アトムプローブによるトランジスターのドーパント分布解析
- Analysis of Dopant Distribution in Transistors with LEAP Si 3D Atom Probe

LEAP Si 3次元アトムプローブによる金属薄膜のシリサイドプロセスの解析
- Analysis of Silicidation Process in Metal Thin Films with LEAP Si 3D Atom Probe

計測技術

Shallow Probeによる例えばボロンなどの極浅イオン注入量の計測
- Ultra shallow implant metrology with the CAMECA Shallow Probe: Boron Example

Shallow ProbeによるHigh-kメタルゲートの計測
- HKMG 32/22nm metrology with the CAMECA Shallow Probe

IMS Wf あるいはSC UltraによるSiON膜の計測
- SiON metrology with the IMS Wf & SC Ultra

カメカの四重極SIMSによる酸窒化膜の計測
- Oxynitride metrology using CAMECA Quadrupole SIMS

ページTOPへ

Geosciences (地球科学)

生物地球化学

NanoSIMS50による細胞外バイオミネラル化の解析
- Analysis of extra-cellular biomineralization with the NanoSIMS 50

地質年代学

IMS 1280-HRによるジルコン年代測定
- Zircon Dating with the IMS 1280-HR

EPMAによるモナザイト年代測定
- Monazite Dating with EPMA

鉱物学

IMS-7F GEOによる希土類元素の分析
- Rare Earth Element Analysis with the IMS 7f-GEO

FEガンEPMAによる輝石の高空間分解能定量分析
- Quantitative analysis of pyroxene at high spatial resolution with FEG-EPMA

EPMAによる区画化された鉱石の分析
- Zoned Mineral Analysis with EPMA

安定同位体

IIMS 1280-HRによる炭素同位体の解析
- Analysis of carbon isotopes with the IMS 1280-HR

IMS 1280-HRによるマグネシウム同位体の解析
- Analysis of magnesium isotopes with the IMS 1280-HR

環境

IIMS 1280-HRによる核分裂粒子の解析
- Nuclear Particle Analysis with the IMS 1280-HR

ページTOPへ

Life sciences (生命科学)

微生物学

15N、13Cを摂取させた嫌気性光栄養細菌の生態生理学
- Ecophysiology of anaerobic phototrophic bacteria: 15N and 13C uptake

細胞生物学

蝸牛(うずまき管)構成要素内でのタンパク質代謝回転
- Protein turnover in structural elements of the cochlea

お問合せ

当社製品に関するご質問・ご相談などはお気軽にご連絡ください。

TEL.03-6809-2402

WEB専用お問合せフォーム

ページTOP